詳細摘要： 徠卡EM TXP 標(biāo)靶面制備系統(tǒng)具有定點修塊拋光功能，是用鋸，磨，銑削，拋光樣品后，供掃描電鏡，透射電鏡，和LM技術(shù)檢測。

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詳細摘要： 新版 EM TIC 3X 三離子束切割儀恪守我們的格言：與用戶合作，使用戶受益"，以注重實用性的方式將性能和靈活性理想融合。